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詳細介紹
| 品牌 | 歐可儀器 | 價格區間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天 |
三坐標影像測量機是一種基于光學非接觸測量原理的高精度幾何量計量設備。它結合了視覺檢測技術與多軸運動控制，通過高分辨率CCD或CMOS相機捕獲工件表面及邊緣的二維圖像，并利用遠心或變焦光學系統，結合Z軸高度測量（如激光、白光共焦或結構光），從而獲取工件的三維空間坐標（X， Y， Z）。
二維幾何量測：測量點、線、圓、弧、橢圓等基本元素的尺寸（長度、直徑、角度、半徑）及位置關系（距離、平行度、垂直度、同心度）。
三維空間測量：測量臺階高度、平面度、傾斜度、深度、槽寬、凸臺高度等Z向尺寸，實現三維輪廓比對。
自動對焦與尋邊：通過激光或圖像對比度算法自動鎖定測量平面，消除人為對焦誤差。
CAD比對：將實測數據與導入的CAD設計模型進行比對，輸出偏差色譜圖，指導修模或工藝調整。
| 參數類別 | 典型指標范圍 |
|---|---|
| 測量行程（X×Y×Z） | 300×200×200 mm 至 1200×1500×300 mm（或更大定制） |
| 光學放大倍率 | 30× ～ 200×（通常結合0.5×/1×/2×物鏡及0.5×/1×攝像目鏡） |
| 測量精度 | XY軸：E2 = (1.5 + L/300) μm ～ (3.0 + L/200) μm （L單位為mm） Z軸（激光/共焦）：(2.0 + L/200) μm ～ (5.0 + L/100) μm |
| 重復精度 | ≤ 2.0 μm |
| 光柵尺分辨率 | 0.1 μm 或 0.5 μm |
| 相機像素 | 500萬 ～ 2000萬像素（工業全局快門） |
| 光源系統 | 環形上光源（多角度可編程LED）、同軸光源、底部透射光源 |
材質：透明/半透明（玻璃、塑料）、高反光（金屬、陶瓷）、軟質（橡膠、薄膜）、電路板、絲印、蝕刻件。
形態：薄片件、細小特征（<0.1 mm）、易變形件（避免接觸力導致變形）、復雜輪廓。
典型行業應用：
電子行業：PCB/FPC、IC引線框架、連接器、微型馬達。
精密機械：鐘表零件、精密沖壓件、注塑件、模具電極。
醫療耗材：注射針頭、導流管、骨科植入物。
五金加工：螺紋、齒輪輪廓、密封槽。
無測量力：不會劃傷工件表面，適合軟質/涂層/超薄件。
高效率：一次視場可捕獲多個特征，批量檢測速度提升5～20倍。
自動化識別：通過邊緣提取算法自動尋邊，無需手動采點。
局限性：對深孔、垂直側壁、純黑/鏡面拋光表面（需輔助噴顯影劑）適用性差；無法測量重量或內部缺陷。
元素構造：最小二乘法擬合直線、圓、橢圓；極值法構建交點點、切點。
形位公差（GD&T）：支持直線度、圓度、平面度；位置度、對稱度、跳動。
自動編程（學習模式）：件手動測量后自動生成執行程序，后續同批次工件可一鍵批量運行，輸出PDF/Excel/CSV報告。
圖像拼接：對大型工件進行局部高倍掃描，自動拼接全貌圖并標注尺寸。
三坐標影像測量機環境溫度：20℃ ± 2℃，溫差變化 ≤ 1℃/h
振動要求：VC-C級以上振動標準（< 50 μm/s 振動速度）
校準標準：使用玻璃線紋尺（標準級）、圓孔板、臺階標準塊（高度塊）進行線性及垂直度校準，校準周期建議12個月（視使用頻次可縮短至6個月）。
Z軸高度測量方式：純影像（基于失焦法，精度較低） → 激光位移傳感器（適合表面漫反射） → 白光共焦（適合高反射/透明多層）。
光源控制能力：分區可控環形光（8區以上）對傾斜面邊緣抓取影響顯著。
導軌與傳動：優先選高精度線性導軌+滾珠絲杠，避免皮帶傳動。
軟件后處理：是否支持SPC統計制程控制、數據導出至MES系統。
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